使用熒光 X 射線分析儀進行在線膜厚分析的實例

發(fā)布日期：2024-11-04      瀏覽次數(shù)：48

使用熒光 X 射線分析儀進行在線膜厚分析的實例




采用 Hours Tech 無損分析技術的在線膜厚分析儀

我們想介紹一款利用我們的無損分析技術的在線膜厚分析儀。



　【特征】
 ● 可在線分析膜厚
 ● 電源僅AC100V，節(jié)電裝置
 ● 可自由定制以滿足您的需求
 ● 配備SDD檢測器，無需液氮或冷卻水  [應用實例]
 ● 高性能成膜的在線膜厚分析
 ● 金屬箔的在線分析
 ● 溶液/液體等的在線分析。









測量沉積膜的厚度是表面處理功能材料開發(fā)和質量控制的重要評估技術。
熒光X射線分析儀“OURSTEX100FA"可以改裝為在線使用，以便將測量頭連接到薄膜沉積設備上。
該測量頭內(nèi)的探測器和X射線管用水冷卻以散熱。


設備安裝



輸出顯示示例



設備規(guī)格（標準）

測量目標	電影
電源	交流100V~240V
安裝環(huán)境溫度	5~27℃
設備冷卻	水冷*1
X射線額定輸出	40(kV)-1.0(mA)，最大40(W)
測量頭尺寸	266(寬)×136(深)×160(高)mm *2