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更新日期：2024-03-25
簡要描述：
日本horiba硅片表面光潔度檢測(cè)IG-410 IG-410 可用于測(cè)量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測(cè)量范圍是傳統(tǒng)型號(hào)的十倍，甚至連鏡面也可以測(cè)量。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)品種類 | 手持 |
|---|---|---|---|
| 數(shù)顯功能 | 無 | 溫控功能 | 有 |
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
日本horiba硅片表面光潔度檢測(cè)IG-410
高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)工作，并且只需將與顯示單元分開的測(cè)量單元應(yīng)用于被攝體即可進(jìn)行測(cè)量。使用近紅外線作為光源，并測(cè)量了1000的光澤度（鏡面反射率100）。
無需預(yù)熱。對(duì)于需要高表面光澤度的產(chǎn)品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復(fù)印機(jī)的反光器和硅片）的質(zhì)量控制而言，它是理想的選擇。
IG-410 可用于測(cè)量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測(cè)量范圍是傳統(tǒng)型號(hào)的十倍，甚至連鏡面也可以測(cè)量。
重量僅為350克（1.3磅），電池驅(qū)動(dòng)，儀器更為便攜。通過簡單的一鍵式操作可進(jìn)行快速可靠的測(cè)量。LED光源的使用壽命＜100000小時(shí)，因此無需更換零件。
IG-410 有兩個(gè)可供用戶選擇的測(cè)量范圍，具體取決于待測(cè)量的樣品。低光澤樣品可使用0 ~100范圍測(cè)量，高光澤樣品可使用0 ~ 1000范圍測(cè)量。提供兩個(gè)校準(zhǔn)板，方便用戶使用簡單的一鍵式校準(zhǔn)程序，以確保結(jié)果的再現(xiàn)性。
甚至在金屬等高光澤區(qū)域
也可以量化“模糊度" IG-410可以測(cè)量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產(chǎn)品。測(cè)量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號(hào)的10倍。也可以測(cè)量鏡面樣品。
緊湊輕巧的設(shè)計(jì)，易于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量
重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)以方便測(cè)量。
由于將LED用作光源，因此無需擔(dān)心光源的壽命。
可以通過
在2個(gè)范圍之間切換來測(cè)量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個(gè)范圍之間切換。每個(gè)范圍都帶有自己的校準(zhǔn)板。
IG-410不僅可以測(cè)量高光澤度金屬，還可以測(cè)量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。
用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀況的光潔度
用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀
用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀
用于檢查硅片的表面光潔度
*由于光澤度是通過光的反射來測(cè)量的，因此測(cè)量點(diǎn)必須平坦。
日本horiba硅片表面光潔度檢測(cè)IG-410
光學(xué)系統(tǒng) | 入射角60°-接收角60° |
測(cè)量面積 | 3 x 6毫米橢圓 |
光源 | LED（波長890nm） |
受光部 | SPD（硅光電二極管） |
測(cè)量范圍 | 100范圍： |
重復(fù)性 | 滿量程的±1％ |
電源供應(yīng) | AA干電池x 4 |
電池壽命 | 200小時(shí)以上（使用堿性干電池） |
工作溫度極限 | 10-40℃ |
尺寸 | 機(jī)身：75W x 34D x 140H mm |
大眾 | 約350g（帶內(nèi)置電池） |
其他功能 | 自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)關(guān)機(jī) |
配件 | 用于100和1000量程的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板 |
