客戶咨詢熱線：
18922517093
HKT-Lite 1.0日本富士fujiwork固定式薄膜測厚儀
日本富士fujiwork固定式薄膜測厚儀HKT-Lite 1.0 它可用于所有工業(yè)領(lǐng)域的測量，質(zhì)量控制，節(jié)能等。 無繩輕巧！價格低廉的固定式測量儀！
更新日期：2024-03-17 訪問量：974
HKT-Lite 0.1日本富士fujiwork便攜式超薄薄膜測厚儀
日本富士fujiwork便攜式超薄薄膜測厚儀HKT-Lite 0.1 無繩輕巧！即使在沒有電源的地方也可以輕松進行0.1μm的測量！
更新日期：2024-03-17 訪問量：1158
日本富士fujiwork便攜式薄膜測厚儀HKT-1200 也可以使用電池的緊湊型厚度測量儀
更新日期：2024-03-17 訪問量：1296
日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216 消除測量者的偏差舒適，準(zhǔn)確地測量1μm或更小的超薄膜
更新日期：2024-03-17 訪問量：1037
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D100NL
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D100NL 多合一緊湊型機器的改進版！!! 只需設(shè)置薄膜，就可以從無鉛的尖duan測量厚度。
更新日期：2024-03-17 訪問量：932
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D200
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D200 帶有內(nèi)置顯示屏的緊湊型機器。運輸功能得到進一步改善，可以進行穩(wěn)定的連續(xù)厚度測量！
更新日期：2024-03-17 訪問量：1095
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-A200
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-A200 帶有高精度測量頭和放大器單元的機器
更新日期：2024-03-17 訪問量：1021
日本napson晶圓平整度測量厚度檢測FLA-200 測厚儀
日本napson晶圓平整度測量厚度檢測FLA-200 非接觸式平面度/厚度測量系統(tǒng)。測量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。
更新日期：2024-03-17 訪問量：2793
