日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

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更新日期：2024-03-18

簡要描述：

日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D
適用于 B，C，D，F(xiàn)，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

適用?于 B，C，D，F(xiàn)，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

校準后90天[校準后1年：兩倍]的測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

測量范圍	標準值設定范圍	實測電流	測量精度^*
測量范圍	標準值設定范圍	實測電流	慢[高分辨率]	快速[LO-Resco。]	快速[Lo-Resco。]
100毫歐	5mΩ-100mΩ	180毫安	±0.01％±α±10d以內	在±0.02％±α±2d之內	≤±0.03％±2α±3d±[2 /（1 + n）] d
1Ω	100.1mΩ?1Ω	180毫安	在±0.005％±α±3d之內	±0.02％±α±1d以內	≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d
10Ω	1.001Ω?10Ω	90毫安	在±0.005％±α±3d之內	±0.02％±α±1d以內	≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	18毫安	±0.005％±1d以內	±0.02％±1d以內	在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內
1kΩ	100.1Ω?1kΩ	9毫安
10kΩ的	1.001kΩ?10kΩ	0.9毫安
100kΩ的	10.01kΩ-100kΩ	90微安
1兆歐	100.1kΩ?1MΩ	9微安	±0.007％±1d以內		在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內
10兆歐	1.001MΩ?10MΩ	0.9微安	±0.02％±10d以內	±0.03％±1d以內	在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內
100兆歐	10.01MΩ-100MΩ	0.09微安	±0.1％±20d以內	±0.1％±2d以內	---

* D =數(shù)字，n =積分時間（毫秒），使用Lo-Reso測量值
％時測量：α=（100 /標準設定值mΩ）x 0.01％，測量值時： α= 0（加±1d）
**屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速	慢	快速
	大約24毫秒-400毫秒	大約11毫秒-400毫秒	約5次/秒? 約2次/秒	約10次/秒? 約2次/秒

*規(guī)格如有變更，恕不另行通知。

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